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泰勒霍普森粗糙度儀DUO應(yīng)用信息
點(diǎn)擊次數(shù)：261 更新時(shí)間：2025-06-11 打印本頁面 返回
Surtronic DUO 是英國泰勒霍普森（Taylor Hobson）推出的高精度便攜式表面粗糙度測量儀，基于接觸式測量原理，通過金剛石測針與被測表面的精確接觸，實(shí)現(xiàn)對工件表面微觀幾何特征的量化分析。該設(shè)備融合先進(jìn)的傳感器技術(shù)與智能算法，適用于生產(chǎn)現(xiàn)場、實(shí)驗(yàn)室及計(jì)量檢測等多場景，滿足 ISO、ASME 等國際標(biāo)準(zhǔn)對表面粗糙度的測量要求。
核心技術(shù)特性
1. 多元參數(shù)測量能力
支持測量20 + 項(xiàng)粗糙度參數(shù)，覆蓋輪廓參數(shù)（如：
幅度參數(shù)：算術(shù)平均偏差 Ra、輪廓最大高度 Rz（ISO 4287）/ Rt（ASME B46.1）、均方根偏差 Rq
功能參數(shù)：輪廓支承長度率 Rmr(c)、偏斜度 Rsk、陡峭度 Rku
原始輪廓參數(shù)：Pa、Pz（適用于精密加工表面分析）
等），可滿足從基礎(chǔ)質(zhì)量控制到復(fù)雜表面功能特性評估的多樣化需求。
