Qnix 4500磁性/非磁性兩用膜厚儀的詳細(xì)資料：

Qnix 4500磁性/非磁性兩用膜厚儀

     1 簡單快速測量
     2 不需要校準(zhǔn)
     3 自動開關(guān)機
     4 大量程FE:0-3000um NFE:0-3000um
     5 雙用探頭，性價比高
     6 霍爾傳感器讓測量更穩(wěn)定
     7 測量時聲音同步
     8 紅寶石耐磨頭，壽命長
     9 背光LED顯示，讀數(shù)更加清晰
    10自動識別測量基體
    11 分體式探頭，滿足不同的測量環(huán)境

Qnix 4500磁性/非磁性兩用膜厚儀

QNix4500涂層測厚儀型號一體化設(shè)計，只需調(diào)零，無需校準(zhǔn)，使用極其簡單。QNix4500涂層測厚儀為磁性和渦流兩用測厚儀，不僅可以用來測量鋼鐵等磁性基體上的非磁性涂鍍層，還可以用來測量鋁、銅、不銹鋼等非磁性金屬表面的非導(dǎo)電涂層，如油漆層、氧化膜、磷化膜等覆層。這兩個型號操作簡單，攜帶方便，精度高，為廣大用戶所喜愛。我們經(jīng)營各類物理測量儀器，是世界的正規(guī)代理商和供應(yīng)商，產(chǎn)品種類齊全，包括各種測量儀器及相關(guān)的各種配件，我們的產(chǎn)品覆蓋zui常見的測量任務(wù)。 對于非標(biāo)準(zhǔn)測量，可以使用多種系統(tǒng)附件，以便對整個測量任務(wù)進行系統(tǒng)定制。詢價，我們有專業(yè)的技術(shù)人員和多年的從業(yè)經(jīng)驗，可以提供根據(jù)您的具體要求為您提供量身定制的測量方案。

尼克斯4500是一款使用簡單，經(jīng)久耐用的便攜式涂層測色儀，也叫膜厚儀；為一體式測量模式，可自動檢測磁性基體和非磁性基體，省時省力；測量范圍廣，精度高，顯示清晰，探頭為紅寶石固定式探頭，耐用抗壓；采用5號電池，耗電量少。德國尼克斯4500涂層測厚儀是您測量涂層厚度膜厚的*檢測儀器，。

 

產(chǎn)品特點： 

一、適用于測量鐵磁性/非磁性基體上油漆層、各種防腐涂層、涂料、粉末噴涂、塑料、橡膠、合成材料如塘瓷、鋅、鉻、鉛等。二、4500涂層測厚儀產(chǎn)品優(yōu)點：        只需調(diào)零，無需校準(zhǔn) 體積小巧，操作方便         一機雙用，自動識別基體         精度高      價格便宜 三、QNix4500涂層測厚儀技術(shù)參數(shù)：   

磁性基體(Fe模式) QNix4200/4500均有此功能非磁性基體(NFe模式) QNix4500有此功能測量范圍Fe:0-3000um/NFe:0-2000um顯示精度：0.1um精度：0-50um:≤±1um  50-1000um:≤±1.5%讀數(shù) 1000-3000um≤±3%讀數(shù)         zui小接觸面：10×10mm         zui小曲率半徑：凸面：3mm   凹面：25mm         zui小基體厚度：Fe:0.2mm/NFe:0.05mm         溫度補償范圍：0-60℃         顯示：LCD液晶(帶背光)         探頭：紅寶石固定式       電源：2×1.5V干電池重量：105g

成熟的測量系統(tǒng)，可互換可選探頭具有zui大的靈活性。

通過與工藝，行業(yè)和服務(wù)行業(yè)的用戶密切合作，已經(jīng)創(chuàng)建了一個模塊化涂層厚度計，將各種經(jīng)過驗證的QNix®量規(guī)的許多特性結(jié)合在一個設(shè)備中。
模塊化測量系統(tǒng)
QNix®4500是一種特別小巧便利的涂層厚度計，可直接插入微型探頭。為了靈活使用，微型探頭也可以連接到延長電纜。

QNix 4500測厚儀

測量鋼，鐵，鋁，鋅，銅，黃銅

QNix4500模塊化測量系統(tǒng)提供高達(dá)5000μm的移動性，高測量精度，易于處理和不同尋常的應(yīng)用。 是一種特別小巧便利的測量儀，用于對所有Fe和NFe襯底上的涂層厚度進行非破壞性測量。可以通過直接插入微型探頭或?qū)⑻筋^連接到插入的延長電纜上使用。
 

     1 簡單快速測量
     2 不需要校準(zhǔn)
     3 自動開關(guān)機
     4 大量程FE:0-3000um NFE:0-3000um
     5 雙用探頭，性價比高
     6 霍爾傳感器讓測量更穩(wěn)定
     7 測量時聲音同步
     8 紅寶石耐磨頭，壽命長
     9 背光LED顯示，讀數(shù)更加清晰
    10自動識別測量基體
    11 分體式探頭，滿足不同的測量環(huán)境